AiST TECH

X-RAY LINE DETECTOR

AiST TECH 是专业的工业 X 射线线阵探测器制造商

 
MiUS D  
水平双能量 X 射线线阵探测器

MiUS D Series 是面向密度相近异物难以检测场景而设计的水平双线 X 射线探测器。
采用非垂直堆叠的水平双线结构,最大限度降低传感器之间的物理干扰和信号失真, 即使在高速生产环境中也能稳定提供低能量和高能量数据。
尤其针对鱼刺、鸡骨、加工肉制品中的骨片等传统单能量方式难以区分的异物检测场景, 可提供更清晰、更可靠的图像。

探测器图像
MiUS D410 探测器图像
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机械图纸
MiUS D410 机械图纸
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型号 MiUS D256 MiUS D410 MiUS D620
产品类型 水平双能量 X 射线线阵探测器
能量范围 30–160 kV
闪烁体 GOS (DRZ-HI, Tungsten Shield)
有效区域 (mm) 256.9 410.8 616.7
像素间距 (mm) 0.4 / 0.8
像素数量 1280 / 640 2048 / 1024 3072 / 1536
A/D 转换器 16-bit (ENOB 13.3 bits)
动态范围 52,000+
扫描速度 (m/min) 5–100
防护等级 IPx6
工作温度 (°C) 0–40
存储温度 (°C) -10–50
工作湿度 (%) 30–80
接口 USB 2.0 / USB 3.0(可选)
电源 DC 12 V
长度 (mm) 288 443 648
宽度 (mm) 188
高度 (mm) 30
重量 (kg) 3.8 5.4 6.8
软件 Windows 7 / 10 (x86 / x64), Microsoft Visual C++ SDK
校准 Multi-Point, 2-Point
图像格式 RAW Image / CAL Image (16-bit TIFF)
图像包类型 Line / Frame
主要特点
  • 水平双能量结构
    - 水平布置 LE/HE 传感器,实现稳定的数据采集。 -
    垂直堆叠结构与 MiUS D Series 水平双能量结构对比图

    MiUS D Series 通过水平布置 LE/HE 传感器,减少堆叠结构中可能产生的传感器之间的物理干扰和信号失真,从而稳定采集两个能量区间的数据。

  • AT-Optimizer
    - 通过 8 个合成参数适配不同检测条件。 -
    AT-Optimizer 8 个合成参数调节图

    AT-Optimizer 基于 LE/HE 数据调节 8 个合成参数,可根据检测对象及异物特性调整合成结果图像。

  • 密度相近物质的区分
    - 利用两个能量区间的信息,区分细微差异。 -

    采用单能量方式时,若产品与异物的密度差较小,可能难以区分。
    MiUS D Series 利用 LE/HE 两个能量区间采集的数据,有助于更清晰地区分密度相近物质之间的差异。

实际样品测试结果
  • Cal LE / Fused Result 对比
    - 通过实际测量数据比较双能量合成结果。 -

    通过实际样品测量数据,可以对比校正后的 LE 图像与双能量合成结果。

    * 测量结果可能因检测对象及成像条件而有所不同。

TEL +82-63-852-5400   E-mail aisttech@aisttech.co.kr

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