AiST DANO T

DANO T

8-Stage TDIX射线线阵探测器

DANO T Series 是采用 8-Stage TDI 结构的高灵敏度X射线线阵探测器。
通过累积重复扫描信号，即使在低信号环境下也能提供清晰图像，并支持基于 0.2 mm 像素间距的高分辨率检测。
在食品、电子部件、电池及多种工业检测环境中，可对细小异物和内部缺陷进行更精细的检测。

探测器图像

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机械图纸

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型号	DANO T256	DANO T410	DANO T620
产品类型	8-Stage TDIX射线线阵探测器
能量范围	30–160 kV
闪烁体	GOS (DRZ-HI, Tungsten Shield)
有效区域 (mm)	256.9	411.1	616.7
像素间距 (mm)	0.2
像素数量	1280	2048	3072
TDI 级数	8
A/D 转换器	16-bit (ENOB 13.3 bits)
动态范围	52,000+
扫描速度 (m/min)	2–66
防护等级	IPx6
工作温度 (°C)	0–40
存储温度 (°C)	-10–50
工作湿度 (%)	30–80
接口	USB 2.0 / USB 3.0（可选）
电源	DC 12 V
长度 (mm)	298	453	658
宽度 (mm)	140
高度 (mm)	35
重量 (kg)	2.1	3.4	5
软件	Windows 7 / 10 (x86 / x64), Microsoft Visual C++ SDK
校准	Multi-Point 256
图像格式	RAW 图像 / CAL 图像（16-bit TIFF）
图像包类型	Line / Frame

主要特点

8-Stage TDI 结构
- 即使在低信号环境下也能提供清晰图像。 -

通过累积重复扫描信号的 TDI 结构提高信号灵敏度，可更稳定地识别细微内部缺陷和异物。
0.2 mm 高分辨率像素间距
- 可更清晰地观察精细结构和小型异物。 -

DANO T Series 基于 0.2 mm 像素间距，适用于精细结构、小型异物及需要内部缺陷确认的精密检测环境。可应用于电子部件、电池、小型包装产品及多种工业精密检测领域。
高灵敏度 & 宽动态范围
- 即使在低信号环境下也能提供稳定的图像质量。 -

基于 16-bit 图像处理和 52,000+ 动态范围，降低噪声影响，即使面对不同密度特性的对象，也可提供稳定的灰度表现和清晰图像。
主要检测领域
- 可应用于食品、电子部件、电池及精密工业检测。 -

DANO T Series 可应用于食品检测、电子部件检测、电池检测及精密工业检测等需要高分辨率X射线图像的多种检测环境。通过 8-Stage TDI 结构和 0.2 mm 像素间距，对细小异物、内部缺陷及精密部件结构的确认提供更稳定的支持。
SDK 集成支持
- 可稳定集成到客户的X射线检测设备中。 -

提供标准 SDK，可将 DANO T Series 与客户的检测软件及设备平台灵活集成。